compaund , ничего не упустил. На вопрос

compaund, ничего не упустил. На вопрос о последовательной схеме замещения ответом будет:

Хотя классическое измерение индуктивности катушек индуктивности производится по последовательной схеме замещения, существует ситуация, при которой возникает параллельная эквивалентная схема (ПЭС) между физическими компонентами. Для малогабаритных катушек индуктивности без сердечника значительные потери составляют омические или медные потери в выводах, следовательно, последовательная схема является предпочтительней. Однако для катушек с металлическим сердечником значительные потери составляют потери в сердечнике, следовательно, в этом случае предпочтительнее параллельная схема замещения для обеспечения высокой точности измерения.
...
Последовательная и параллельная схема замещения при измерении индуктивности. При измерении индуктивностей обычно используется последовательная схема замещения. Это позволяет наиболее точно производить измерения параметров индуктивностей, особенно добротности (Q) при малых значениях индуктивности. Эта схема наиболее эффективна, когда большую часть потерь в индуктивности составляют омические потери. Однако, на высоких частотах большую часть потерь составляют потери в сердечнике, гистерезисе и на создание паразитных вихревых токов. В этом случае наиболее приемлемой будет параллельная схема замещения.

Цитата:
меряем L в режиме параллельного замещения "PAL"

Всё верно. Только вот результат и метод определения короткозамкнутых витков согласно приведенным выше измерениям мне непонятны, увы.

Цитата:
Нашел тему о коротких витках на этом форуме - изучаю.

Estet, если не трудно, прошу указать на тему.